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芯片測試三箱(xiang)式冷熱沖擊試驗(yan)機是金屬、塑料、橡膠、電子(zi)等材(cai)料行業*的(de)測試設備,用于(yu)測試材(cai)料結構或(huo)復(fu)合材(cai)料,在瞬間下經溫(wen)及極(ji)低溫(wen)的(de)連續環(huan)境下所能(neng)忍受的(de)程度(du),得以在Z短時間內(nei)檢(jian)測試樣因熱脹(zhang)冷縮(suo)所引(yin)起的(de)化(hua)學變化(hua)或(huo)物理傷害
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